Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Institutionell upphovsman: ebrary, Inc
Övriga upphovsmän: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Materialtyp: Elektronisk E-bok
Språk:engelska
Publicerad: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Serie:Advanced micro & nanosystems.
Ämnen:
Länkar:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!