Reliability of MEMS testing of materials and devices /

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Detalhes bibliográficos
Autor Corporativo: ebrary, Inc
Outros Autores: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Colecção:Advanced micro & nanosystems.
Assuntos:
Acesso em linha:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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