Reliability of MEMS testing of materials and devices /

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Байгууллагын зохиогч: ebrary, Inc
Бусад зохиолчид: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Формат: Цахим Цахим ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Цуврал:Advanced micro & nanosystems.
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!