Reliability of MEMS testing of materials and devices /

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書誌詳細
団体著者: ebrary, Inc
その他の著者: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
フォーマット: 電子媒体 eBook
言語:英語
出版事項: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
シリーズ:Advanced micro & nanosystems.
主題:
オンライン・アクセス:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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