Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Yhteisötekijä: ebrary, Inc
Muut tekijät: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Sarja:Advanced micro & nanosystems.
Aiheet:
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!