Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: ebrary, Inc
Άλλοι συγγραφείς: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Σειρά:Advanced micro & nanosystems.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!