Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Korporativní autor: ebrary, Inc
Další autoři: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Edice:Advanced micro & nanosystems.
Témata:
On-line přístup:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!