Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: ebrary, Inc
Weitere Verfasser: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Schriftenreihe:Advanced micro & nanosystems.
Schlagworte:
Online-Zugang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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