Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: ebrary, Inc
Outros autores: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Series:Advanced micro & nanosystems.
Subjects:
Acceso en liña:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Descripción
descrición da copia:First edition 2007.
Descrición Física:xx, 303 p. : ill.
Bibliografía:Includes bibliographical references and index.