Reliability of MEMS testing of materials and devices /
Guardado en:
| Autor Corporativo: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Weinheim :
Wiley-VCH,
2013.
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| Colección: | Advanced micro & nanosystems.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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| Notas: | First edition 2007. |
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| Descripción Física: | xx, 303 p. : ill. |
| Bibliografía: | Includes bibliographical references and index. |