Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Awdur Corfforaethol: ebrary, Inc
Awduron Eraill: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Fformat: Electronig eLyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Cyfres:Advanced micro & nanosystems.
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
Disgrifiad
Disgrifiad o'r Eitem:First edition 2007.
Disgrifiad Corfforoll:xx, 303 p. : ill.
Llyfryddiaeth:Includes bibliographical references and index.