Haugstad, G. (2012). Atomic force microscopy: Exploring basic modes and advanced applications. John Wiley & Sons.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. Hoboken, N.J.: John Wiley & Sons, 2012.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. John Wiley & Sons, 2012.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.