Haugstad, G. (2012). Atomic force microscopy: Exploring basic modes and advanced applications. John Wiley & Sons.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Chicago (17e ed.) Bronvermelding
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. Hoboken, N.J.: John Wiley & Sons, 2012.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
MLA (9e ed.) Bronvermelding
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. John Wiley & Sons, 2012.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.