Haugstad, G. (2012). Atomic force microscopy: Exploring basic modes and advanced applications. John Wiley & Sons.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. Hoboken, N.J.: John Wiley & Sons, 2012.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. John Wiley & Sons, 2012.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.