APA-viite (7. p.)
Wong, T. K. S. (2012). Semiconductor strain metrology: Principles and applications. Bentham Science.
Chicago-viite (17. p.)
Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL: Bentham Science, 2012.
MLA-viite (9. p.)
Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. Bentham Science, 2012.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.