ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Պահպանված է:
Համատեղ հեղինակներ: | International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc |
---|---|
Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային Գիտաժողովի նյութեր էլ․ գիրք |
Լեզու: | անգլերեն |
Հրապարակվել է: |
Materials Park, Ohio :
ASM International,
2011.
|
Խորագրեր: | |
Առցանց հասանելիություն: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2011) -
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2013) -
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2013) -
ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2009) -
ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2009)