ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
সংরক্ষণ করুন:
সংস্থা লেখক: | International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc |
---|---|
বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক কনফারেন্স প্রসিডিং বৈদ্যুতিন গ্রন্থ |
ভাষা: | ইংরেজি |
প্রকাশিত: |
Materials Park, Ohio :
ASM International,
2011.
|
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
প্রকাশিত: (2011) -
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
প্রকাশিত: (2013) -
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
প্রকাশিত: (2013) -
ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
প্রকাশিত: (2009) -
ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
প্রকাশিত: (2009)