Citação norma APA
Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI interconnections. World Scientific.
Citação norma Chicago
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Hackensack, N.J.: World Scientific, 2010.
Citação norma MLA
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. World Scientific, 2010.
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