Style de citation APA (7e éd.)
Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI interconnections. World Scientific.
Style de citation Chicago (17e éd.)
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Hackensack, N.J.: World Scientific, 2010.
Style de citation MLA (9e éd.)
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. World Scientific, 2010.
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