Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI interconnections. World Scientific.
Copié avec succès vers le presse-papier
Échec de la copie vers le presse-papier
Style de citation Chicago (17e éd.)
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Hackensack, N.J.: World Scientific, 2010.
Copié avec succès vers le presse-papier
Échec de la copie vers le presse-papier
Style de citation MLA (9e éd.)
Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. World Scientific, 2010.
Copié avec succès vers le presse-papier
Échec de la copie vers le presse-papier
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.