International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2000). ISTFA 2000: Proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington. ASM International.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Chicago (17e ed.) Bronvermelding
International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash, ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, en Inc ebrary. ISTFA 2000: Proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington. Materials Park, OH: ASM International, 2000.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
MLA (9e ed.) Bronvermelding
International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash, et al. ISTFA 2000: Proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington. ASM International, 2000.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.