Point defect energies /
Збережено в:
| Інші автори: | |
|---|---|
| Формат: | Електронний ресурс eКнига |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
[Pfäffikon, Zurich, Switzerland] :
Trans Tech Publications,
[2015]
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
Point defect energies /
Опубліковано: (2015)
Опубліковано: (2015)
Crystals, defects and microstructures modeling across scales /
за авторством: Phillips, Rob, 1960-
Опубліковано: (2001)
за авторством: Phillips, Rob, 1960-
Опубліковано: (2001)
Crystals, defects and microstructures modeling across scales /
за авторством: Phillips, Rob, 1960-
Опубліковано: (2001)
за авторством: Phillips, Rob, 1960-
Опубліковано: (2001)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective IX /
Опубліковано: (2007)
Опубліковано: (2007)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective XI /
Опубліковано: (2009)
Опубліковано: (2009)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective X /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective XI /
Опубліковано: (2009)
Опубліковано: (2009)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective X /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective IX /
Опубліковано: (2007)
Опубліковано: (2007)
Defects and diffusion in semiconductors XIII /
Опубліковано: (2011)
Опубліковано: (2011)
Defects and diffusion in semiconductors XIII /
Опубліковано: (2011)
Опубліковано: (2011)
Defects and diffusion in semiconductors.
Опубліковано: (2013)
Опубліковано: (2013)
Defects and diffusion in semiconductors.
Опубліковано: (2013)
Опубліковано: (2013)
The technology of building defects
за авторством: Hinks, John (A. John)
Опубліковано: (1997)
за авторством: Hinks, John (A. John)
Опубліковано: (1997)
The technology of building defects
за авторством: Hinks, John (A. John)
Опубліковано: (1997)
за авторством: Hinks, John (A. John)
Опубліковано: (1997)
Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
Electron paramagnetic resonance studies of point defects in AlGaN and SiC /
за авторством: Trinh, Xuan Thang
Опубліковано: (2015)
за авторством: Trinh, Xuan Thang
Опубліковано: (2015)
Electron paramagnetic resonance studies of point defects in AlGaN and SiC /
за авторством: Trinh, Xuan Thang
Опубліковано: (2015)
за авторством: Trinh, Xuan Thang
Опубліковано: (2015)
Defects and diffusion in ceramics XIII : an annual retrospective XIII /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
Опубліковано: (2009)
Опубліковано: (2009)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
Опубліковано: (2010)
Опубліковано: (2010)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
Опубліковано: (2010)
Опубліковано: (2010)
Defects and diffusion in ceramics XIII : an annual retrospective XIII /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
Опубліковано: (2009)
Опубліковано: (2009)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective III /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective III /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Diffusion and defects in TiO2 : a compilation /
Опубліковано: (2013)
Опубліковано: (2013)
Diffusion and defects in TiO2 : a compilation /
Опубліковано: (2013)
Опубліковано: (2013)
Optimization of in-line defect detection by eddy current techniques
за авторством: Rahman, Mehbub-Ur
Опубліковано: (2011)
за авторством: Rahman, Mehbub-Ur
Опубліковано: (2011)
Optimization of in-line defect detection by eddy current techniques
за авторством: Rahman, Mehbub-Ur
Опубліковано: (2011)
за авторством: Rahman, Mehbub-Ur
Опубліковано: (2011)
Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Mass growth of large PbWO4 single crystals for particle detection in high-energy experiments at CERN
за авторством: Annenkov, A. N.
Опубліковано: (2009)
за авторством: Annenkov, A. N.
Опубліковано: (2009)
Mass growth of large PbWO4 single crystals for particle detection in high-energy experiments at CERN
за авторством: Annenkov, A. N.
Опубліковано: (2009)
за авторством: Annenkov, A. N.
Опубліковано: (2009)
Dislocation reactions and stacking-fault energies /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Dislocation reactions and stacking-fault energies /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Theory of point estimation
за авторством: Lehmann, E. L. (Erich Leo), 1917-
Опубліковано: (1998)
за авторством: Lehmann, E. L. (Erich Leo), 1917-
Опубліковано: (1998)
Theory of point estimation
за авторством: Lehmann, E. L. (Erich Leo), 1917-
Опубліковано: (1998)
за авторством: Lehmann, E. L. (Erich Leo), 1917-
Опубліковано: (1998)
Defects and diffusion studied using PAC spectroscopy /
Опубліковано: (2011)
Опубліковано: (2011)