Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Servín, Manuel (Autor), Quiroga, J. Antonio (Autor), Padilla, J. Moises (Autor)
Formato:	Electrónico eBook
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Materias:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Acceso en línea:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Sea el primero en dejar un comentario!

Ejemplares similares