Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Servín, Manuel (Tác giả), Quiroga, J. Antonio (Tác giả), Padilla, J. Moises (Tác giả)
Định dạng: Điện tử eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự