Servín, M., Quiroga, J. A., & Padilla, J. M. (2014). Fringe pattern analysis for optical metrology: Theory, algorithms, and applications. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA.
Чикаго-гийн эшлэл (17 дахь хэвлэлт)Servín, Manuel, J. Antonio Quiroga, ба J. Moises Padilla. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
MLA -ийн эшлэл (9 дэх хэвлэлт)Servín, Manuel, et al. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Анхааруулга: Эдгээр ишлэлүүд үргэлж 100% үнэн зөв биш байж магадгүй.