Servín, M., Quiroga, J. A., & Padilla, J. M. (2014). Fringe pattern analysis for optical metrology: Theory, algorithms, and applications. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Servín, Manuel, J. Antonio Quiroga, و J. Moises Padilla. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications. Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Servín, Manuel, et al. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.