Reliability modeling with applications : essays in honor of Professor Toshio Nakagawa on his 70th Birthday /

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Altri autori: Nakamura, Syouji, Qian, Cun Hua, Chen, Mingchih
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: New Jersey : World Scientific, [2014]
Soggetti:
Accesso online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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