Reliability modeling with applications : essays in honor of Professor Toshio Nakagawa on his 70th Birthday /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Інші автори: Nakamura, Syouji, Qian, Cun Hua, Chen, Mingchih
Формат: Електронний ресурс eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: New Jersey : World Scientific, [2014]
Предмети:
Онлайн доступ:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!