Reliability modeling with applications : essays in honor of Professor Toshio Nakagawa on his 70th Birthday /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Nakamura, Syouji, Qian, Cun Hua, Chen, Mingchih
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: New Jersey : World Scientific, [2014]
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!