Reliability modeling with applications : essays in honor of Professor Toshio Nakagawa on his 70th Birthday /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Nakamura, Syouji, Qian, Cun Hua, Chen, Mingchih
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: New Jersey : World Scientific, [2014]
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Παρόμοια τεκμήρια