Nanobeam x-ray scattering : probing matter at the nanoscale /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Stangl, Julian
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Hoboken, New Jersey : John Wiley & sons, 2013.
נושאים:
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים