High-k gate dielectrics for CMOS technology

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Korporacja: ebrary, Inc
Kolejni autorzy: He, Gang, Sun, Zhaoqi
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: Weinheim : Wiley-VCH, 2012.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Spis treści:
  • pt. 1. Scaling and challenging of Si-based CMOS
  • pt. 2. High-k deposition and materials characterization
  • pt. 3. Challenge in interface engineering and electrode
  • pt. 4. Development in non-Si-based CMOS technology
  • pt. 5. High-k Application in novel devices
  • pt. 6. Challenge and directions.