Haugstad, G. (2012). Atomic force microscopy: Exploring basic modes and advanced applications. John Wiley & Sons.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Chicago Style (17. basım) Atıf
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. Hoboken, N.J.: John Wiley & Sons, 2012.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
MLA (9th ed.) Atıf
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. John Wiley & Sons, 2012.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..