Зображення обкладинки

QR код

Semiconductor strain metrology principles and applications /

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Автор:	Wong, Terence K. S.
Співавтор:	ebrary, Inc
Формат:	Електронний ресурс eКнига
Мова:	Англійська
Опубліковано:	[Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL : Bentham Science, [2012]
Предмети:	Semiconductors > Design and construction > Materials. Compound semiconductors > Design and construction > Materials. Silicon-on-insulator technology. Electronic books.
Онлайн доступ:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Схожі ресурси

Nanoscaled semiconductor-on-insulator materials, sensors and devices : selected, peer reviewed papers from the 6th International Workshop on Semiconductor-on-Insulator Materials and Devices, 24-28 October, 2010 Kyiv, Ukraine /
Опубліковано: (2011)

Silicon solid state devices and radiation detection
за авторством: Leroy, Claude
Опубліковано: (2012)

Semiconductor electronic devices study book /
за авторством: Staras, Stanislovas
Опубліковано: (2010)

Compound semiconductor bulk materials and characterizations
за авторством: Oda, O.
Опубліковано: (2007)

An introduction to the physics and electrochemistry of semiconductors : fundamentals and applications /
за авторством: Sharon, Maheshwar
Опубліковано: (2016)

Compound semiconductor bulk materials and characterizations
за авторством: Oda, Osamu
Опубліковано: (2012)

CMOS sigma-delta converters practical design guide /
за авторством: Rosa, José M. de la
Опубліковано: (2013)

Materials for high-temperature semiconductor devices
Опубліковано: (1995)

Nano-CMOS circuit and physical design
Опубліковано: (2005)

Advances in silicon carbide processing and applications
Опубліковано: (2004)

Handbook of wafer bonding
Опубліковано: (2012)

Nitride semiconductor devices fundamentals and applications /
за авторством: Morkoç, Hadis
Опубліковано: (2013)

Compound semiconductor integrated circuits
Опубліковано: (2003)

Recent topics on modeling of semiconductor processes, devices, and circuits
за авторством: Onur Topaloglu, Rasit
Опубліковано: (2011)

The story of semiconductors
за авторством: Orton, J. W. (John Wilfred)
Опубліковано: (2004)

III-nitride semiconductor materials /
Опубліковано: (2006)

Makers of the microchip a documentary history of Fairchild Semiconductor /
за авторством: Lécuyer, Christophe
Опубліковано: (2010)

Hybrid CMOS single-electron-transistor device and circuit design
за авторством: Mahapatra, Santanu
Опубліковано: (2006)

SOI lubistors : lateral, unidirectional, bipolar-type insulated-gate transistors /
за авторством: Omura, Y. (Yasuhisa)
Опубліковано: (2013)

Fundamentals of silicon carbide technology : growth, characterization, devices and applications /
за авторством: Kimoto, Tsunenobu, 1963-, та інші
Опубліковано: (2014)

SiC materials and devices.
Опубліковано: (2006)

Silicon carbide power devices
за авторством: Baliga, B. Jayant, 1948-
Опубліковано: (2005)

Functionalization of semiconductor surfaces
Опубліковано: (2012)

Demystifying switching power supplies
за авторством: Mack, Raymond A.
Опубліковано: (2005)

Advances in semiconducting materials /
Опубліковано: (2009)

MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
за авторством: Chen, Jr-Tai
Опубліковано: (2015)

MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
за авторством: Chen, Jr-Tai
Опубліковано: (2015)

Semiconductor materials an introduction to basic principles /
за авторством: Yacobi, B. G.
Опубліковано: (2003)

Semiconductor packaging materials interaction and reliability /
Опубліковано: (2011)

CMOS circuit design for RF sensors
за авторством: Gudnason, Gunnar
Опубліковано: (2002)

ESD design and synthesis /
за авторством: Voldman, Steven H.
Опубліковано: (2011)

Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
Опубліковано: (2002)

Semiconductor electrochemistry /
за авторством: Memming, Rüdiger, 1931-
Опубліковано: (2015)

An essential guide to electronic material surfaces and interfaces /
за авторством: Brillson, L. J.
Опубліковано: (2016)

Advances in III-V semiconductor nanowires and nanodevices
Опубліковано: (2011)

Reliability and radiation effects in compound semiconductors
за авторством: Johnston, Allan
Опубліковано: (2010)

Microelectronic circuit design /
за авторством: Jaeger, Richard C.
Опубліковано: (2006)

Advanced semiconductor heterostructures novel devices, potential device applications and basic properties /
Опубліковано: (2003)

Database needs for modeling and simulation of plasma processing
Опубліковано: (1996)

HeteroSiC & WASMPE 2011 : selected, peer reviewed papers from the 4th Workshop on Advanced Semiconductor Materials and Devices for Power Electronics Applications (HeteroSiC & WASMPE 2011), June 27-30, 2011, Tours, France /
Опубліковано: (2012)