Advanced interconnects for ULSI technology
Uloženo v:
| Korporativní autor: | ebrary, Inc |
|---|---|
| Další autoři: | Baklanov, Mikhail, Ho, P. S., Zschech, Ehrenfried |
| Médium: | Elektronický zdroj E-kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Chichester, West Susex :
Wiley,
2012.
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky
Advanced interconnects for ULSI technology
Vydáno: (2012)
Vydáno: (2012)
Electromigration in ULSI interconnections
Autor: Tan, Cher Ming, 1959-
Vydáno: (2010)
Autor: Tan, Cher Ming, 1959-
Vydáno: (2010)
Electromigration in ULSI interconnections
Autor: Tan, Cher Ming, 1959-
Vydáno: (2010)
Autor: Tan, Cher Ming, 1959-
Vydáno: (2010)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
Autor: Goel, Ashok K., 1953-
Vydáno: (2015)
Autor: Goel, Ashok K., 1953-
Vydáno: (2015)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
Autor: Goel, Ashok K., 1953-
Vydáno: (2015)
Autor: Goel, Ashok K., 1953-
Vydáno: (2015)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Vydáno: (2006)
Vydáno: (2006)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Vydáno: (2006)
Vydáno: (2006)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
Autor: Ibe, Eishi H.
Vydáno: (2015)
Autor: Ibe, Eishi H.
Vydáno: (2015)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
Autor: Ibe, Eishi H.
Vydáno: (2015)
Autor: Ibe, Eishi H.
Vydáno: (2015)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
Autor: Tsividis, Yannis
Vydáno: (2002)
Autor: Tsividis, Yannis
Vydáno: (2002)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
Autor: Tsividis, Yannis
Vydáno: (2002)
Autor: Tsividis, Yannis
Vydáno: (2002)
Power-constrained testing of VLSI circuits
Autor: Nicolici, Nicola
Vydáno: (2003)
Autor: Nicolici, Nicola
Vydáno: (2003)
Power-constrained testing of VLSI circuits
Autor: Nicolici, Nicola
Vydáno: (2003)
Autor: Nicolici, Nicola
Vydáno: (2003)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
Autor: Franca, Jose E.
Vydáno: (1994)
Autor: Franca, Jose E.
Vydáno: (1994)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
Autor: Franca, Jose E.
Vydáno: (1994)
Autor: Franca, Jose E.
Vydáno: (1994)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
Vydáno: (2009)
Vydáno: (2009)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
Vydáno: (2009)
Vydáno: (2009)
VLSI circuits for biomedical applications
Vydáno: (2008)
Vydáno: (2008)
VLSI circuits for biomedical applications
Vydáno: (2008)
Vydáno: (2008)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Vydáno: (2005)
Vydáno: (2005)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Vydáno: (2005)
Vydáno: (2005)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
Autor: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Vydáno: (1999)
Autor: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Vydáno: (1999)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
Autor: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Vydáno: (1999)
Autor: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Vydáno: (1999)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
Autor: Radecka, Katarzyna
Vydáno: (2003)
Autor: Radecka, Katarzyna
Vydáno: (2003)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
Autor: Radecka, Katarzyna
Vydáno: (2003)
Autor: Radecka, Katarzyna
Vydáno: (2003)
Advanced high speed devices
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Advanced high speed devices
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
Autor: Bahukudumbi, Sudarshan
Vydáno: (2010)
Autor: Bahukudumbi, Sudarshan
Vydáno: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
Autor: Bahukudumbi, Sudarshan
Vydáno: (2010)
Autor: Bahukudumbi, Sudarshan
Vydáno: (2010)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Vydáno: (2008)
Vydáno: (2008)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Vydáno: (2008)
Vydáno: (2008)
Recent advances in dielectric materials
Vydáno: (2009)
Vydáno: (2009)
Recent advances in dielectric materials
Vydáno: (2009)
Vydáno: (2009)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
Autor: Arora, N. (Narain), 1943-
Vydáno: (2007)
Autor: Arora, N. (Narain), 1943-
Vydáno: (2007)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
Autor: Arora, N. (Narain), 1943-
Vydáno: (2007)
Autor: Arora, N. (Narain), 1943-
Vydáno: (2007)
Understanding fabless IC technology
Autor: Hurtarte, Jeorge S.
Vydáno: (2007)
Autor: Hurtarte, Jeorge S.
Vydáno: (2007)
Understanding fabless IC technology
Autor: Hurtarte, Jeorge S.
Vydáno: (2007)
Autor: Hurtarte, Jeorge S.
Vydáno: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
Autor: Karris, Steven T.
Vydáno: (2007)
Autor: Karris, Steven T.
Vydáno: (2007)
CMOS RFIC design principles
Autor: Caverly, Robert
Vydáno: (2007)
Autor: Caverly, Robert
Vydáno: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
Autor: Karris, Steven T.
Vydáno: (2007)
Autor: Karris, Steven T.
Vydáno: (2007)
Podobné jednotky
-
Advanced interconnects for ULSI technology
Vydáno: (2012) -
Electromigration in ULSI interconnections
Autor: Tan, Cher Ming, 1959-
Vydáno: (2010) -
Electromigration in ULSI interconnections
Autor: Tan, Cher Ming, 1959-
Vydáno: (2010) -
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
Autor: Goel, Ashok K., 1953-
Vydáno: (2015) -
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
Autor: Goel, Ashok K., 1953-
Vydáno: (2015)