Advanced interconnects for ULSI technology
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | , , |
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Chichester, West Susex :
Wiley,
2012.
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge
Advanced interconnects for ULSI technology
Veröffentlicht: (2012)
Veröffentlicht: (2012)
Electromigration in ULSI interconnections
von: Tan, Cher Ming, 1959-
Veröffentlicht: (2010)
von: Tan, Cher Ming, 1959-
Veröffentlicht: (2010)
Electromigration in ULSI interconnections
von: Tan, Cher Ming, 1959-
Veröffentlicht: (2010)
von: Tan, Cher Ming, 1959-
Veröffentlicht: (2010)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
von: Goel, Ashok K., 1953-
Veröffentlicht: (2015)
von: Goel, Ashok K., 1953-
Veröffentlicht: (2015)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
von: Goel, Ashok K., 1953-
Veröffentlicht: (2015)
von: Goel, Ashok K., 1953-
Veröffentlicht: (2015)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Veröffentlicht: (2006)
Veröffentlicht: (2006)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Veröffentlicht: (2006)
Veröffentlicht: (2006)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
von: Ibe, Eishi H.
Veröffentlicht: (2015)
von: Ibe, Eishi H.
Veröffentlicht: (2015)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
von: Ibe, Eishi H.
Veröffentlicht: (2015)
von: Ibe, Eishi H.
Veröffentlicht: (2015)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
von: Tsividis, Yannis
Veröffentlicht: (2002)
von: Tsividis, Yannis
Veröffentlicht: (2002)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
von: Tsividis, Yannis
Veröffentlicht: (2002)
von: Tsividis, Yannis
Veröffentlicht: (2002)
Power-constrained testing of VLSI circuits
von: Nicolici, Nicola
Veröffentlicht: (2003)
von: Nicolici, Nicola
Veröffentlicht: (2003)
Power-constrained testing of VLSI circuits
von: Nicolici, Nicola
Veröffentlicht: (2003)
von: Nicolici, Nicola
Veröffentlicht: (2003)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
von: Franca, Jose E.
Veröffentlicht: (1994)
von: Franca, Jose E.
Veröffentlicht: (1994)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
von: Franca, Jose E.
Veröffentlicht: (1994)
von: Franca, Jose E.
Veröffentlicht: (1994)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
Veröffentlicht: (2009)
Veröffentlicht: (2009)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
Veröffentlicht: (2009)
Veröffentlicht: (2009)
VLSI circuits for biomedical applications
Veröffentlicht: (2008)
Veröffentlicht: (2008)
VLSI circuits for biomedical applications
Veröffentlicht: (2008)
Veröffentlicht: (2008)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Veröffentlicht: (2005)
Veröffentlicht: (2005)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Veröffentlicht: (2005)
Veröffentlicht: (2005)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
von: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Veröffentlicht: (1999)
von: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Veröffentlicht: (1999)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
von: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Veröffentlicht: (1999)
von: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Veröffentlicht: (1999)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
von: Radecka, Katarzyna
Veröffentlicht: (2003)
von: Radecka, Katarzyna
Veröffentlicht: (2003)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
von: Radecka, Katarzyna
Veröffentlicht: (2003)
von: Radecka, Katarzyna
Veröffentlicht: (2003)
Advanced high speed devices
Veröffentlicht: (2010)
Veröffentlicht: (2010)
Advanced high speed devices
Veröffentlicht: (2010)
Veröffentlicht: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
von: Bahukudumbi, Sudarshan
Veröffentlicht: (2010)
von: Bahukudumbi, Sudarshan
Veröffentlicht: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
von: Bahukudumbi, Sudarshan
Veröffentlicht: (2010)
von: Bahukudumbi, Sudarshan
Veröffentlicht: (2010)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Veröffentlicht: (2008)
Veröffentlicht: (2008)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Veröffentlicht: (2008)
Veröffentlicht: (2008)
Recent advances in dielectric materials
Veröffentlicht: (2009)
Veröffentlicht: (2009)
Recent advances in dielectric materials
Veröffentlicht: (2009)
Veröffentlicht: (2009)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
von: Arora, N. (Narain), 1943-
Veröffentlicht: (2007)
von: Arora, N. (Narain), 1943-
Veröffentlicht: (2007)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
von: Arora, N. (Narain), 1943-
Veröffentlicht: (2007)
von: Arora, N. (Narain), 1943-
Veröffentlicht: (2007)
Understanding fabless IC technology
von: Hurtarte, Jeorge S.
Veröffentlicht: (2007)
von: Hurtarte, Jeorge S.
Veröffentlicht: (2007)
Understanding fabless IC technology
von: Hurtarte, Jeorge S.
Veröffentlicht: (2007)
von: Hurtarte, Jeorge S.
Veröffentlicht: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
von: Karris, Steven T.
Veröffentlicht: (2007)
von: Karris, Steven T.
Veröffentlicht: (2007)
CMOS RFIC design principles
von: Caverly, Robert
Veröffentlicht: (2007)
von: Caverly, Robert
Veröffentlicht: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
von: Karris, Steven T.
Veröffentlicht: (2007)
von: Karris, Steven T.
Veröffentlicht: (2007)