Advanced interconnects for ULSI technology
Պահպանված է:
| Համատեղ հեղինակ: | |
|---|---|
| Այլ հեղինակներ: | , , |
| Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային էլ․ գիրք |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
Chichester, West Susex :
Wiley,
2012.
|
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
Advanced interconnects for ULSI technology
Հրապարակվել է: (2012)
Հրապարակվել է: (2012)
Electromigration in ULSI interconnections
: Tan, Cher Ming, 1959-
Հրապարակվել է: (2010)
: Tan, Cher Ming, 1959-
Հրապարակվել է: (2010)
Electromigration in ULSI interconnections
: Tan, Cher Ming, 1959-
Հրապարակվել է: (2010)
: Tan, Cher Ming, 1959-
Հրապարակվել է: (2010)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
: Goel, Ashok K., 1953-
Հրապարակվել է: (2015)
: Goel, Ashok K., 1953-
Հրապարակվել է: (2015)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
: Goel, Ashok K., 1953-
Հրապարակվել է: (2015)
: Goel, Ashok K., 1953-
Հրապարակվել է: (2015)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Հրապարակվել է: (2006)
Հրապարակվել է: (2006)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Հրապարակվել է: (2006)
Հրապարակվել է: (2006)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
: Ibe, Eishi H.
Հրապարակվել է: (2015)
: Ibe, Eishi H.
Հրապարակվել է: (2015)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
: Ibe, Eishi H.
Հրապարակվել է: (2015)
: Ibe, Eishi H.
Հրապարակվել է: (2015)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
: Tsividis, Yannis
Հրապարակվել է: (2002)
: Tsividis, Yannis
Հրապարակվել է: (2002)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
: Tsividis, Yannis
Հրապարակվել է: (2002)
: Tsividis, Yannis
Հրապարակվել է: (2002)
Power-constrained testing of VLSI circuits
: Nicolici, Nicola
Հրապարակվել է: (2003)
: Nicolici, Nicola
Հրապարակվել է: (2003)
Power-constrained testing of VLSI circuits
: Nicolici, Nicola
Հրապարակվել է: (2003)
: Nicolici, Nicola
Հրապարակվել է: (2003)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
: Franca, Jose E.
Հրապարակվել է: (1994)
: Franca, Jose E.
Հրապարակվել է: (1994)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
: Franca, Jose E.
Հրապարակվել է: (1994)
: Franca, Jose E.
Հրապարակվել է: (1994)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
Հրապարակվել է: (2009)
Հրապարակվել է: (2009)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
Հրապարակվել է: (2009)
Հրապարակվել է: (2009)
VLSI circuits for biomedical applications
Հրապարակվել է: (2008)
Հրապարակվել է: (2008)
VLSI circuits for biomedical applications
Հրապարակվել է: (2008)
Հրապարակվել է: (2008)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Հրապարակվել է: (2005)
Հրապարակվել է: (2005)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Հրապարակվել է: (2005)
Հրապարակվել է: (2005)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Հրապարակվել է: (1999)
: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Հրապարակվել է: (1999)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Հրապարակվել է: (1999)
: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Հրապարակվել է: (1999)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
: Radecka, Katarzyna
Հրապարակվել է: (2003)
: Radecka, Katarzyna
Հրապարակվել է: (2003)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
: Radecka, Katarzyna
Հրապարակվել է: (2003)
: Radecka, Katarzyna
Հրապարակվել է: (2003)
Advanced high speed devices
Հրապարակվել է: (2010)
Հրապարակվել է: (2010)
Advanced high speed devices
Հրապարակվել է: (2010)
Հրապարակվել է: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
: Bahukudumbi, Sudarshan
Հրապարակվել է: (2010)
: Bahukudumbi, Sudarshan
Հրապարակվել է: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
: Bahukudumbi, Sudarshan
Հրապարակվել է: (2010)
: Bahukudumbi, Sudarshan
Հրապարակվել է: (2010)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Հրապարակվել է: (2008)
Հրապարակվել է: (2008)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Հրապարակվել է: (2008)
Հրապարակվել է: (2008)
Recent advances in dielectric materials
Հրապարակվել է: (2009)
Հրապարակվել է: (2009)
Recent advances in dielectric materials
Հրապարակվել է: (2009)
Հրապարակվել է: (2009)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
: Arora, N. (Narain), 1943-
Հրապարակվել է: (2007)
: Arora, N. (Narain), 1943-
Հրապարակվել է: (2007)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
: Arora, N. (Narain), 1943-
Հրապարակվել է: (2007)
: Arora, N. (Narain), 1943-
Հրապարակվել է: (2007)
Understanding fabless IC technology
: Hurtarte, Jeorge S.
Հրապարակվել է: (2007)
: Hurtarte, Jeorge S.
Հրապարակվել է: (2007)
Understanding fabless IC technology
: Hurtarte, Jeorge S.
Հրապարակվել է: (2007)
: Hurtarte, Jeorge S.
Հրապարակվել է: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
: Karris, Steven T.
Հրապարակվել է: (2007)
: Karris, Steven T.
Հրապարակվել է: (2007)
CMOS RFIC design principles
: Caverly, Robert
Հրապարակվել է: (2007)
: Caverly, Robert
Հրապարակվել է: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
: Karris, Steven T.
Հրապարակվել է: (2007)
: Karris, Steven T.
Հրապարակվել է: (2007)