Reliability technology principles and practice of failure prevention in electronic systems /
Збережено в:
Автор: | Pascoe, Norman |
---|---|
Співавтор: | ebrary, Inc |
Формат: | Електронний ресурс eКнига |
Мова: | Англійська |
Опубліковано: |
Chichester, West Sussex, U.K. :
Wiley,
2011.
|
Серія: | Wiley series in quality and reliability engineering.
|
Предмети: | |
Онлайн доступ: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
за авторством: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Опубліковано: (2011)
за авторством: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Опубліковано: (2011)
Parts selection and management
Опубліковано: (2004)
Опубліковано: (2004)
Guide to state-of-the-art electron devices
Опубліковано: (2013)
Опубліковано: (2013)
Electronic components and processes
за авторством: Maheshwari, Preeti
Опубліковано: (2006)
за авторством: Maheshwari, Preeti
Опубліковано: (2006)
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
за авторством: Kawahara, Jun
Опубліковано: (2013)
за авторством: Kawahara, Jun
Опубліковано: (2013)
Electronic devices and amplifier circuits with MATLABʼ / Simulinkʼ / SimElectronics ʼ examples
за авторством: Karris, Steven T.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Karris, Steven T.
Опубліковано: (2012)
Hertzian tales electronic products, aesthetic experience, and critical design /
за авторством: Dunne, Anthony
Опубліковано: (2005)
за авторством: Dunne, Anthony
Опубліковано: (2005)
High temperature electronics design for aero engine controls and health monitoring /
за авторством: Stoica, Lucian, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Stoica, Lucian, та інші
Опубліковано: (2016)
Electronic devices : a text and software problems manual /
за авторством: Schultz, Mitchel E.
Опубліковано: (1994)
за авторством: Schultz, Mitchel E.
Опубліковано: (1994)
Polymers for electronic components a Rapra industry analysis report /
за авторством: Cousins, Keith
Опубліковано: (2001)
за авторством: Cousins, Keith
Опубліковано: (2001)
Designing the internet of things /
за авторством: McEwen, Adrian
Опубліковано: (2014)
за авторством: McEwen, Adrian
Опубліковано: (2014)
Boundary-scan interconnect diagnosis
за авторством: Sousa, José T. de
Опубліковано: (2001)
за авторством: Sousa, José T. de
Опубліковано: (2001)
Lead-free solder interconnect reliability
Опубліковано: (2005)
Опубліковано: (2005)
Spacecraft reliability and multi-state failures a statistical approach /
за авторством: Saleh, Joseph H., 1971-
Опубліковано: (2011)
за авторством: Saleh, Joseph H., 1971-
Опубліковано: (2011)
Solid state electronic devices /
за авторством: Streetman, Ben G.
Опубліковано: (2010)
за авторством: Streetman, Ben G.
Опубліковано: (2010)
Construction reliability safety, variability and sustainability /
Опубліковано: (2011)
Опубліковано: (2011)
Cost analysis of electronic systems
за авторством: Sandborn, Peter
Опубліковано: (2013)
за авторством: Sandborn, Peter
Опубліковано: (2013)
Electronic : devices and circuits /
за авторством: Kulshreshtha, D. c.
Опубліковано: (2006)
за авторством: Kulshreshtha, D. c.
Опубліковано: (2006)
Electronic materials science
за авторством: Irene, Eugene A.
Опубліковано: (2005)
за авторством: Irene, Eugene A.
Опубліковано: (2005)
Introduction to microfabrication
за авторством: Franssila, Sami
Опубліковано: (2010)
за авторством: Franssila, Sami
Опубліковано: (2010)
Digital rubbish natural history of electronics /
за авторством: Gabrys, Jennifer
Опубліковано: (2011)
за авторством: Gabrys, Jennifer
Опубліковано: (2011)
Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
за авторством: Drobny, Jiri George
Опубліковано: (2012)
за авторством: Drobny, Jiri George
Опубліковано: (2012)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
за авторством: Ibe, Eishi H.
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ibe, Eishi H.
Опубліковано: (2015)
A designer's guide to built-in self-test
за авторством: Stroud, Charles E.
Опубліковано: (2002)
за авторством: Stroud, Charles E.
Опубліковано: (2002)
High tech trash digital devices, hidden toxics, and human health /
за авторством: Grossman, Elizabeth, 1957-
Опубліковано: (2006)
за авторством: Grossman, Elizabeth, 1957-
Опубліковано: (2006)
ESD basics from semiconductor manufacturing to use /
за авторством: Voldman, Steven H.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Voldman, Steven H.
Опубліковано: (2012)
System and Bayesian reliability essays in honor of Professor Richard E. Barlow on his 70th birthday /
Опубліковано: (2001)
Опубліковано: (2001)
Materials for high-density electronic packaging and interconnection report of the Committee on Materials for High-Density Electronic Packaging, National Materials Advisory Board, Commission on Engineering and Technical Systems, National Research Council.
Опубліковано: (1990)
Опубліковано: (1990)
Systems reliability and failure prevention
за авторством: Hecht, Herbert
Опубліковано: (2004)
за авторством: Hecht, Herbert
Опубліковано: (2004)
Advanced manufacturing process, lead free interconnect materials and reliability modeling for electronics packaging
Опубліковано: (2006)
Опубліковано: (2006)
Electrical characterization of organic electronic materials and devices
за авторством: Stallinga, Peter, 1966-
Опубліковано: (2009)
за авторством: Stallinga, Peter, 1966-
Опубліковано: (2009)
Single-electron devices and circuits in silicon
за авторством: Durrani, Zahid Ali Khan
Опубліковано: (2010)
за авторством: Durrani, Zahid Ali Khan
Опубліковано: (2010)
Electrical engineering materials
за авторством: Basak, T. K.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Basak, T. K.
Опубліковано: (2012)
ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.
Опубліковано: (1996)
Опубліковано: (1996)
Reliability engineering advances
Опубліковано: (2009)
Опубліковано: (2009)
ISTFA 2002 proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz. /
Опубліковано: (2002)
Опубліковано: (2002)
ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
Опубліковано: (2000)
Опубліковано: (2000)
ISTFA '98 proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /
Опубліковано: (1998)
Опубліковано: (1998)
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
Опубліковано: (1999)
Опубліковано: (1999)
Technology for facility managers the impact of cutting-edge technology on facility management /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Схожі ресурси
-
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
за авторством: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Опубліковано: (2011) -
Parts selection and management
Опубліковано: (2004) -
Guide to state-of-the-art electron devices
Опубліковано: (2013) -
Electronic components and processes
за авторством: Maheshwari, Preeti
Опубліковано: (2006) -
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
за авторством: Kawahara, Jun
Опубліковано: (2013)