Reliability technology principles and practice of failure prevention in electronic systems /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Pascoe, Norman |
---|---|
مؤلف مشترك: | ebrary, Inc |
التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
اللغة: | الإنجليزية |
منشور في: |
Chichester, West Sussex, U.K. :
Wiley,
2011.
|
سلاسل: | Wiley series in quality and reliability engineering.
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
حسب: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
منشور في: (2011)
حسب: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
منشور في: (2011)
Parts selection and management
منشور في: (2004)
منشور في: (2004)
Guide to state-of-the-art electron devices
منشور في: (2013)
منشور في: (2013)
Electronic components and processes
حسب: Maheshwari, Preeti
منشور في: (2006)
حسب: Maheshwari, Preeti
منشور في: (2006)
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
حسب: Kawahara, Jun
منشور في: (2013)
حسب: Kawahara, Jun
منشور في: (2013)
Electronic devices and amplifier circuits with MATLABʼ / Simulinkʼ / SimElectronics ʼ examples
حسب: Karris, Steven T.
منشور في: (2012)
حسب: Karris, Steven T.
منشور في: (2012)
Hertzian tales electronic products, aesthetic experience, and critical design /
حسب: Dunne, Anthony
منشور في: (2005)
حسب: Dunne, Anthony
منشور في: (2005)
High temperature electronics design for aero engine controls and health monitoring /
حسب: Stoica, Lucian, وآخرون
منشور في: (2016)
حسب: Stoica, Lucian, وآخرون
منشور في: (2016)
Electronic devices : a text and software problems manual /
حسب: Schultz, Mitchel E.
منشور في: (1994)
حسب: Schultz, Mitchel E.
منشور في: (1994)
Polymers for electronic components a Rapra industry analysis report /
حسب: Cousins, Keith
منشور في: (2001)
حسب: Cousins, Keith
منشور في: (2001)
Designing the internet of things /
حسب: McEwen, Adrian
منشور في: (2014)
حسب: McEwen, Adrian
منشور في: (2014)
Boundary-scan interconnect diagnosis
حسب: Sousa, José T. de
منشور في: (2001)
حسب: Sousa, José T. de
منشور في: (2001)
Lead-free solder interconnect reliability
منشور في: (2005)
منشور في: (2005)
Spacecraft reliability and multi-state failures a statistical approach /
حسب: Saleh, Joseph H., 1971-
منشور في: (2011)
حسب: Saleh, Joseph H., 1971-
منشور في: (2011)
Solid state electronic devices /
حسب: Streetman, Ben G.
منشور في: (2010)
حسب: Streetman, Ben G.
منشور في: (2010)
Construction reliability safety, variability and sustainability /
منشور في: (2011)
منشور في: (2011)
Cost analysis of electronic systems
حسب: Sandborn, Peter
منشور في: (2013)
حسب: Sandborn, Peter
منشور في: (2013)
Electronic : devices and circuits /
حسب: Kulshreshtha, D. c.
منشور في: (2006)
حسب: Kulshreshtha, D. c.
منشور في: (2006)
Electronic materials science
حسب: Irene, Eugene A.
منشور في: (2005)
حسب: Irene, Eugene A.
منشور في: (2005)
Introduction to microfabrication
حسب: Franssila, Sami
منشور في: (2010)
حسب: Franssila, Sami
منشور في: (2010)
Digital rubbish natural history of electronics /
حسب: Gabrys, Jennifer
منشور في: (2011)
حسب: Gabrys, Jennifer
منشور في: (2011)
Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
حسب: Drobny, Jiri George
منشور في: (2012)
حسب: Drobny, Jiri George
منشور في: (2012)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
حسب: Ibe, Eishi H.
منشور في: (2015)
حسب: Ibe, Eishi H.
منشور في: (2015)
A designer's guide to built-in self-test
حسب: Stroud, Charles E.
منشور في: (2002)
حسب: Stroud, Charles E.
منشور في: (2002)
High tech trash digital devices, hidden toxics, and human health /
حسب: Grossman, Elizabeth, 1957-
منشور في: (2006)
حسب: Grossman, Elizabeth, 1957-
منشور في: (2006)
ESD basics from semiconductor manufacturing to use /
حسب: Voldman, Steven H.
منشور في: (2012)
حسب: Voldman, Steven H.
منشور في: (2012)
Materials for high-density electronic packaging and interconnection report of the Committee on Materials for High-Density Electronic Packaging, National Materials Advisory Board, Commission on Engineering and Technical Systems, National Research Council.
منشور في: (1990)
منشور في: (1990)
System and Bayesian reliability essays in honor of Professor Richard E. Barlow on his 70th birthday /
منشور في: (2001)
منشور في: (2001)
Systems reliability and failure prevention
حسب: Hecht, Herbert
منشور في: (2004)
حسب: Hecht, Herbert
منشور في: (2004)
Advanced manufacturing process, lead free interconnect materials and reliability modeling for electronics packaging
منشور في: (2006)
منشور في: (2006)
Electrical characterization of organic electronic materials and devices
حسب: Stallinga, Peter, 1966-
منشور في: (2009)
حسب: Stallinga, Peter, 1966-
منشور في: (2009)
Single-electron devices and circuits in silicon
حسب: Durrani, Zahid Ali Khan
منشور في: (2010)
حسب: Durrani, Zahid Ali Khan
منشور في: (2010)
Electrical engineering materials
حسب: Basak, T. K.
منشور في: (2012)
حسب: Basak, T. K.
منشور في: (2012)
ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.
منشور في: (1996)
منشور في: (1996)
Technology for facility managers the impact of cutting-edge technology on facility management /
منشور في: (2012)
منشور في: (2012)
ISTFA 2002 proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz. /
منشور في: (2002)
منشور في: (2002)
ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
منشور في: (2000)
منشور في: (2000)
ISTFA '98 proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /
منشور في: (1998)
منشور في: (1998)
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
منشور في: (1999)
منشور في: (1999)
ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /
منشور في: (2004)
منشور في: (2004)
مواد مشابهة
-
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
حسب: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
منشور في: (2011) -
Parts selection and management
منشور في: (2004) -
Guide to state-of-the-art electron devices
منشور في: (2013) -
Electronic components and processes
حسب: Maheshwari, Preeti
منشور في: (2006) -
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
حسب: Kawahara, Jun
منشور في: (2013)