Trích dẫn kiểu APA (xuất bản lần thứ 7)

International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2010). ISTFA 2010: Conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA. ASM International.

Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)

International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, và Inc ebrary. ISTFA 2010: Conference Proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA. Materials Park, Ohio: ASM International, 2010.

Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)

International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., et al. ISTFA 2010: Conference Proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA. ASM International, 2010.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.