ISTFA 2002 proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz. /
Պահպանված է:
Համատեղ հեղինակներ: | International Symposium for Testing and Failure Analysis Phoenix, Ariz., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc |
---|---|
Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային Գիտաժողովի նյութեր էլ․ գիրք |
Լեզու: | անգլերեն |
Հրապարակվել է: |
Materials Park, OH :
ASM International,
2002.
|
Խորագրեր: | |
Առցանց հասանելիություն: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2013)
Հրապարակվել է: (2013)
ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Հրապարակվել է: (2001)
Հրապարակվել է: (2001)
ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Հրապարակվել է: (2003)
Հրապարակվել է: (2003)
ISTFA 2008 conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Հրապարակվել է: (2008)
Հրապարակվել է: (2008)
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
Հրապարակվել է: (1999)
Հրապարակվել է: (1999)
ISTFA '98 proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /
Հրապարակվել է: (1998)
Հրապարակվել է: (1998)
ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2011)
Հրապարակվել է: (2011)
ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.
Հրապարակվել է: (1996)
Հրապարակվել է: (1996)
ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /
Հրապարակվել է: (2004)
Հրապարակվել է: (2004)
ISTFA 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Conversion Center, Houston, Texas, USA /
Հրապարակվել է: (2014)
Հրապարակվել է: (2014)
ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2009)
Հրապարակվել է: (2009)
ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2007)
Հրապարակվել է: (2007)
ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /
Հրապարակվել է: (2010)
Հրապարակվել է: (2010)
ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /
Հրապարակվել է: (2005)
Հրապարակվել է: (2005)
ISTFA '97 proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 27-31 October, 1997, Santa Clara Convention center, Santa Clara, California /
Հրապարակվել է: (1997)
Հրապարակվել է: (1997)
ISTFA 2006 proceedings of the 32nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 12-16, 2006, Renaissance Austin Hotel, Austin, Texas, USA.
Հրապարակվել է: (2006)
Հրապարակվել է: (2006)
ISTFA 2012 conference proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 11-15, 2012, Phoenix Convention Center, Phoenix, Arizona, USA.
Հրապարակվել է: (2012)
Հրապարակվել է: (2012)
ISTFA 2015 conference proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 1-5 2015, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Հրապարակվել է: (2015)
Հրապարակվել է: (2015)
ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
Հրապարակվել է: (2000)
Հրապարակվել է: (2000)
Electronic materials science
: Irene, Eugene A.
Հրապարակվել է: (2005)
: Irene, Eugene A.
Հրապարակվել է: (2005)
A designer's guide to built-in self-test
: Stroud, Charles E.
Հրապարակվել է: (2002)
: Stroud, Charles E.
Հրապարակվել է: (2002)
Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
: Drobny, Jiri George
Հրապարակվել է: (2012)
: Drobny, Jiri George
Հրապարակվել է: (2012)
Parts selection and management
Հրապարակվել է: (2004)
Հրապարակվել է: (2004)
Microelectronic failure analysis desk reference.
Հրապարակվել է: (2002)
Հրապարակվել է: (2002)
Microelectronics failure analysis desk reference /
Հրապարակվել է: (2011)
Հրապարակվել է: (2011)
Design for at-speed test, diagnosis, and measurement
Հրապարակվել է: (2000)
Հրապարակվել է: (2000)
Microelectronic failure analysis desk reference : 2001 supplement /
Հրապարակվել է: (2001)
Հրապարակվել է: (2001)
Electrical characterization of organic electronic materials and devices
: Stallinga, Peter, 1966-
Հրապարակվել է: (2009)
: Stallinga, Peter, 1966-
Հրապարակվել է: (2009)
Solid state electronic devices /
: Streetman, Ben G.
Հրապարակվել է: (2010)
: Streetman, Ben G.
Հրապարակվել է: (2010)
Single-electron devices and circuits in silicon
: Durrani, Zahid Ali Khan
Հրապարակվել է: (2010)
: Durrani, Zahid Ali Khan
Հրապարակվել է: (2010)
Boundary-scan interconnect diagnosis
: Sousa, José T. de
Հրապարակվել է: (2001)
: Sousa, José T. de
Հրապարակվել է: (2001)
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Հրապարակվել է: (2011)
: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Հրապարակվել է: (2011)
Electronic components and processes
: Maheshwari, Preeti
Հրապարակվել է: (2006)
: Maheshwari, Preeti
Հրապարակվել է: (2006)
Guide to state-of-the-art electron devices
Հրապարակվել է: (2013)
Հրապարակվել է: (2013)
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
: Kawahara, Jun
Հրապարակվել է: (2013)
: Kawahara, Jun
Հրապարակվել է: (2013)
Polymers for electronic components a Rapra industry analysis report /
: Cousins, Keith
Հրապարակվել է: (2001)
: Cousins, Keith
Հրապարակվել է: (2001)
Electronic : devices and circuits /
: Kulshreshtha, D. c.
Հրապարակվել է: (2006)
: Kulshreshtha, D. c.
Հրապարակվել է: (2006)
ESD circuits and devices /
: Voldman, Steven H.
Հրապարակվել է: (2006)
: Voldman, Steven H.
Հրապարակվել է: (2006)
Components, packaging and manufacturing technology II : selected, peer reviewed papers from the 2013 3rd International Conference on Packaging and Manufacturing Technology (ICCPMT 2013), December 31, 2013 - January 2, 2014, Brisbane Australia /
Հրապարակվել է: (2014)
Հրապարակվել է: (2014)
Electronic devices and amplifier circuits with MATLABʼ / Simulinkʼ / SimElectronics ʼ examples
: Karris, Steven T.
Հրապարակվել է: (2012)
: Karris, Steven T.
Հրապարակվել է: (2012)
Նմանատիպ նյութեր
-
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Հրապարակվել է: (2013) -
ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Հրապարակվել է: (2001) -
ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Հրապարակվել է: (2003) -
ISTFA 2008 conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Հրապարակվել է: (2008) -
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
Հրապարակվել է: (1999)