ISTFA 2002 proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz. /
Tallennettuna:
Yhteisötekijät: | International Symposium for Testing and Failure Analysis Phoenix, Ariz., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc |
---|---|
Aineistotyyppi: | Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja |
Kieli: | englanti |
Julkaistu: |
Materials Park, OH :
ASM International,
2002.
|
Aiheet: | |
Linkit: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Samankaltaisia teoksia
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Julkaistu: (2013)
Julkaistu: (2013)
ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Julkaistu: (2003)
Julkaistu: (2003)
ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Julkaistu: (2001)
Julkaistu: (2001)
ISTFA 2008 conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Julkaistu: (2008)
Julkaistu: (2008)
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
Julkaistu: (1999)
Julkaistu: (1999)
ISTFA '98 proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /
Julkaistu: (1998)
Julkaistu: (1998)
ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Julkaistu: (2011)
Julkaistu: (2011)
ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.
Julkaistu: (1996)
Julkaistu: (1996)
ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /
Julkaistu: (2004)
Julkaistu: (2004)
ISTFA 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Conversion Center, Houston, Texas, USA /
Julkaistu: (2014)
Julkaistu: (2014)
ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Julkaistu: (2009)
Julkaistu: (2009)
ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Julkaistu: (2007)
Julkaistu: (2007)
ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /
Julkaistu: (2010)
Julkaistu: (2010)
ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /
Julkaistu: (2005)
Julkaistu: (2005)
ISTFA '97 proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 27-31 October, 1997, Santa Clara Convention center, Santa Clara, California /
Julkaistu: (1997)
Julkaistu: (1997)
ISTFA 2006 proceedings of the 32nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 12-16, 2006, Renaissance Austin Hotel, Austin, Texas, USA.
Julkaistu: (2006)
Julkaistu: (2006)
ISTFA 2012 conference proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 11-15, 2012, Phoenix Convention Center, Phoenix, Arizona, USA.
Julkaistu: (2012)
Julkaistu: (2012)
ISTFA 2015 conference proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 1-5 2015, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Julkaistu: (2015)
Julkaistu: (2015)
ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
Julkaistu: (2000)
Julkaistu: (2000)
Electronic materials science
Tekijä: Irene, Eugene A.
Julkaistu: (2005)
Tekijä: Irene, Eugene A.
Julkaistu: (2005)
A designer's guide to built-in self-test
Tekijä: Stroud, Charles E.
Julkaistu: (2002)
Tekijä: Stroud, Charles E.
Julkaistu: (2002)
Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
Tekijä: Drobny, Jiri George
Julkaistu: (2012)
Tekijä: Drobny, Jiri George
Julkaistu: (2012)
Parts selection and management
Julkaistu: (2004)
Julkaistu: (2004)
Microelectronics failure analysis desk reference /
Julkaistu: (2011)
Julkaistu: (2011)
Microelectronic failure analysis desk reference.
Julkaistu: (2002)
Julkaistu: (2002)
Design for at-speed test, diagnosis, and measurement
Julkaistu: (2000)
Julkaistu: (2000)
Microelectronic failure analysis desk reference : 2001 supplement /
Julkaistu: (2001)
Julkaistu: (2001)
Electrical characterization of organic electronic materials and devices
Tekijä: Stallinga, Peter, 1966-
Julkaistu: (2009)
Tekijä: Stallinga, Peter, 1966-
Julkaistu: (2009)
Solid state electronic devices /
Tekijä: Streetman, Ben G.
Julkaistu: (2010)
Tekijä: Streetman, Ben G.
Julkaistu: (2010)
Single-electron devices and circuits in silicon
Tekijä: Durrani, Zahid Ali Khan
Julkaistu: (2010)
Tekijä: Durrani, Zahid Ali Khan
Julkaistu: (2010)
Boundary-scan interconnect diagnosis
Tekijä: Sousa, José T. de
Julkaistu: (2001)
Tekijä: Sousa, José T. de
Julkaistu: (2001)
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
Tekijä: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Julkaistu: (2011)
Tekijä: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Julkaistu: (2011)
Electronic components and processes
Tekijä: Maheshwari, Preeti
Julkaistu: (2006)
Tekijä: Maheshwari, Preeti
Julkaistu: (2006)
Guide to state-of-the-art electron devices
Julkaistu: (2013)
Julkaistu: (2013)
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
Tekijä: Kawahara, Jun
Julkaistu: (2013)
Tekijä: Kawahara, Jun
Julkaistu: (2013)
Polymers for electronic components a Rapra industry analysis report /
Tekijä: Cousins, Keith
Julkaistu: (2001)
Tekijä: Cousins, Keith
Julkaistu: (2001)
Electronic : devices and circuits /
Tekijä: Kulshreshtha, D. c.
Julkaistu: (2006)
Tekijä: Kulshreshtha, D. c.
Julkaistu: (2006)
ESD circuits and devices /
Tekijä: Voldman, Steven H.
Julkaistu: (2006)
Tekijä: Voldman, Steven H.
Julkaistu: (2006)
Components, packaging and manufacturing technology II : selected, peer reviewed papers from the 2013 3rd International Conference on Packaging and Manufacturing Technology (ICCPMT 2013), December 31, 2013 - January 2, 2014, Brisbane Australia /
Julkaistu: (2014)
Julkaistu: (2014)
Digital rubbish natural history of electronics /
Tekijä: Gabrys, Jennifer
Julkaistu: (2011)
Tekijä: Gabrys, Jennifer
Julkaistu: (2011)
Samankaltaisia teoksia
-
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Julkaistu: (2013) -
ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Julkaistu: (2003) -
ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Julkaistu: (2001) -
ISTFA 2008 conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Julkaistu: (2008) -
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
Julkaistu: (1999)