Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: ebrary, Inc
Otros Autores: Schrimpf, Ronald Donald, Fleetwood, D. M. (Dan M.)
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Singapore ; New Jersey : World Scientific Pub., c2004.
Colección:Selected topics in electronics and systems ; vol. 34.
Materias:
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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