Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
Gardado en:
| Autor Corporativo: | |
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| Outros autores: | |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Idioma: | inglés |
| Publicado: |
Hackensack, NJ :
World Scientific,
c2008.
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| Subjects: | |
| Acceso en liña: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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| Descrición Física: | xxii, 343 p. : ill. (some col.) |
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| Bibliografía: | Includes bibliographical references (p. 291-315) and index. |