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System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	ebrary, Inc
Weitere Verfasser:	Wang, Laung-Terng, Stroud, Charles E., Touba, Nur A.
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008.
Schriftenreihe:	Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
Schlagworte:	Systems on a chip > Testing. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Integrated circuits > Very large scale integration > Design. Electronic books.
Online-Zugang:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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