Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
Tallennettuna:
| Yhteisötekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , |
| Aineistotyyppi: | Elektroninen E-kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Cambridge ; New York :
Cambridge University Press,
2000.
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|