Design for at-speed test, diagnosis, and measurement

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo:	ebrary, Inc
Otros Autores:	Nadeau-Dostie, Benoit
Formato:	Electrónico eBook
Lenguaje:	English
Publicado:	Boston : Kluwer Academic, c2000.
Colección:	Frontiers in electronic testing.
Materias:	Integrated circuits > Testing. Electronic apparatus and appliances > Testing. Electronic books.
Acceso en línea:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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