Electron diffraction techniques.
Uloženo v:
Další autoři: | Cowley, J.M |
---|---|
Médium: | Kniha |
Jazyk: | angličtina |
Vydáno: |
Oxford :
OUP,
c1993.
|
Témata: | |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky
Electron diffraction techniques.
Vydáno: (1993)
Vydáno: (1993)
Modern diffraction methods
Vydáno: (2013)
Vydáno: (2013)
Modern diffraction methods
Vydáno: (2013)
Vydáno: (2013)
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
Autor: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Vydáno: (2014)
Autor: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Vydáno: (2014)
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
Autor: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Vydáno: (2014)
Autor: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Vydáno: (2014)
Two-dimensional X-ray diffraction
Autor: He, Bob B., 1954-
Vydáno: (2009)
Autor: He, Bob B., 1954-
Vydáno: (2009)
Two-dimensional X-ray diffraction
Autor: He, Bob B., 1954-
Vydáno: (2009)
Autor: He, Bob B., 1954-
Vydáno: (2009)
Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
The basics of crystallography and diffraction
Autor: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Vydáno: (2009)
Autor: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Vydáno: (2009)
The basics of crystallography and diffraction
Autor: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Vydáno: (2009)
Autor: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Vydáno: (2009)
Structure from diffraction methods /
Vydáno: (2014)
Vydáno: (2014)
Structure from diffraction methods /
Vydáno: (2014)
Vydáno: (2014)
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data /
Autor: Will, Georg
Vydáno: (2006)
Autor: Will, Georg
Vydáno: (2006)
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data /
Autor: Will, Georg
Vydáno: (2006)
Autor: Will, Georg
Vydáno: (2006)
X-ray and related techniques : selected, peer reviewed papers of the International Conference on X-ray and Related Techniques in Research and Industry (IXCRI 2010) held at Langkawi Island, Malaysia from 9th to 10th of June 2010 /
Vydáno: (2011)
Vydáno: (2011)
X-ray and related techniques : selected, peer reviewed papers of the International Conference on X-ray and Related Techniques in Research and Industry (IXCRI 2010) held at Langkawi Island, Malaysia from 9th to 10th of June 2010 /
Vydáno: (2011)
Vydáno: (2011)
Structure determination from powder diffraction data
Vydáno: (2002)
Vydáno: (2002)
Structure determination from powder diffraction data
Vydáno: (2002)
Vydáno: (2002)
29th Annual Conference of the German Crystallographic Society, March 15-18, 2021, Hamburg, Germany.
Vydáno: (2021)
Vydáno: (2021)
Chemical crystallography
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Chemical crystallography
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Einfuhrung in die Kristalloptik /
Autor: Buchwald, Eberhard, 1886-
Vydáno: (1952)
Autor: Buchwald, Eberhard, 1886-
Vydáno: (1952)
Theories and techniques of crystal structure determination
Autor: Shmueli, U. (Uri)
Vydáno: (2007)
Autor: Shmueli, U. (Uri)
Vydáno: (2007)
Theories and techniques of crystal structure determination
Autor: Shmueli, U. (Uri)
Vydáno: (2007)
Autor: Shmueli, U. (Uri)
Vydáno: (2007)
X-Ray charge densities and chemical bonding /
Autor: Coppens, Philip
Vydáno: (1997)
Autor: Coppens, Philip
Vydáno: (1997)
X-Ray charge densities and chemical bonding /
Autor: Coppens, Philip
Vydáno: (1997)
Autor: Coppens, Philip
Vydáno: (1997)
Al-based thin film quasicrystals and approximants /
Autor: Olsson, Simon
Vydáno: (2013)
Autor: Olsson, Simon
Vydáno: (2013)
Al-based thin film quasicrystals and approximants /
Autor: Olsson, Simon
Vydáno: (2013)
Autor: Olsson, Simon
Vydáno: (2013)
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
Autor: Servín, Manuel, a další
Vydáno: (2014)
Autor: Servín, Manuel, a další
Vydáno: (2014)
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
Autor: Servín, Manuel, a další
Vydáno: (2014)
Autor: Servín, Manuel, a další
Vydáno: (2014)
Structural inorganic chemistry.
Autor: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
Vydáno: (1962)
Autor: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
Vydáno: (1962)
Modern X-ray analysis on single crystals : a practical guide /
Autor: Luger, Peter, 1943-
Vydáno: (2014)
Autor: Luger, Peter, 1943-
Vydáno: (2014)
Crystallography and surface structure : an introduction for surface scientists and nanoscientists /
Autor: Hermann, Klaus
Vydáno: (2017)
Autor: Hermann, Klaus
Vydáno: (2017)
Liquid polymorphism
Vydáno: (2013)
Vydáno: (2013)
Liquid crystals fundamentals /
Autor: Singh, Shri
Vydáno: (2002)
Autor: Singh, Shri
Vydáno: (2002)
Properties of materials anisotropy, symmetry, structure /
Autor: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
Vydáno: (2005)
Autor: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
Vydáno: (2005)
Structural inorganic chemistry.
Autor: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
Vydáno: (1962)
Autor: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
Vydáno: (1962)
Properties of materials anisotropy, symmetry, structure /
Autor: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
Vydáno: (2005)
Autor: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
Vydáno: (2005)
Liquid crystals fundamentals /
Autor: Singh, Shri
Vydáno: (2002)
Autor: Singh, Shri
Vydáno: (2002)
Podobné jednotky
-
Electron diffraction techniques.
Vydáno: (1993) -
Modern diffraction methods
Vydáno: (2013) -
Modern diffraction methods
Vydáno: (2013) -
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
Autor: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Vydáno: (2014) -
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
Autor: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Vydáno: (2014)