Rezultaty - Padilla, J. Moises

  • Rezultaty 1 - 1 Rezultaty od 1
Redukuj rezultaty
  1. 1
    Okładka

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / od Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    Wydane 2014
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektroniczne E-book

    Dodaj do listy ulubionych książek
    Zapisane w:

Narzędzie wyszukiwania: