Risultati della ricerca - Padilla, J. Moises

  • Mostra 1 - 1 risultati su 1
Raffina i risultati
  1. 1
    Copertina

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / di Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    Pubblicazione 2014
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elettronico eBook

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:

Strumenti per la ricerca: