Որոնման արդյունքները - Padilla, J. Moises
- Ցուցադրվում են 1 - 1 արդյունքները 1
-
1
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises
Հրապարակվել է 2014Դասիչ: Բեռնվում է…An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Տեղակայված է: Բեռնվում է…
Էլեկտրոնային էլ․ գիրք