Rezultati pretrage - Padilla, J. Moises

  • Prikaz rezultata 1 – 1 od 1
Detaljiziraj rezultate
  1. 1
    Slika omota

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / od Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    Izdano 2014
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronički e-knjiga

    Spremi u popis
    Spremljeno u:

Alati za pretragu: