תוצאות חיפוש - Padilla, J. Moises

  • Showing 1 - 1 results of 1
Refine Results
  1. 1
    תמונות העטיפה

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / מאת Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    יצא לאור 2014
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    אלקטרוני ספר אלקטרוני

    הוספה למועדפים
    שמור ב:

כלי חיפוש: