Hakutulokset - Padilla, J. Moises
- Näytetään 1 - 1 yhteensä 1 tuloksesta
-
1
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / Tekijä Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises
Julkaistu 2014Hyllypaikka: Lataa…An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Sijainti: Lataa…
Elektroninen E-kirja