Søgeresultater - Padilla, J. Moises

  • Showing 1 - 1 results of 1
Refine Results
  1. 1
    Omslagsbillede

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / af Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    Udgivet 2014
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Electronisk eBog

    Føj til favoritter
    Saved in:

Søgeredskaber: